RD资料（1）
首先我要說的是一個人盡皆知的事實：這“時間”它一直在不停的走!
下面回歸主題吧： 把握住新機種這一關，每一次版本的升級都會新技術產生，而我們只有掌握每 一次變動，才能夠保持技術的經久不衰 ，才不致落伍。要不然，我們終會被自己打敗。
實 例 一 :
Test6,7,8正常波形:
不良波形:
1. 經分析, 上述信號都是Analog信號, 以VREF為基準, 由於VREF異常, 導致這些信號無法正常工作.
測試一:換上編後為2C20066160的ALC650芯片:1. 測得更換芯片後, DVDD1=DVDD2=3.12V, clock=12.318MHz, AVDD1=AVDD2=5.01V, VREF=2.35V, 正常. 2. 測試RESET#, SYNC, BIT_CLK, SDATA_IN, SDATA_OUT信號,其時序和電壓符合規格.3. 用TL79測試, 發現test12: Play two wave files (48k/44.1 sampling rate/16-bits stereo file).測試fail, 顯示信息: Fail: SPDIF-OUT Function Test測試與SPDIF-OUT Function Test相關信號: 47pin SPDIFI, 48pin SPDIFO
Function test pass波形:
對比波形, 測試不良板47pin有明顯雜訊. 但是經驗證(增加一電容濾波)不是引起SPDIF-OUT fail的原因. 因 SPDIF-OUT測試信號回路是:SPDIF-OUT and MIC-IN. 然後分析數據是否正確. 因此, 量測SPDIF-OUT測試時MIC-IN的波形.
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