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HM65平台特性的调试试验记录
更新时间：2013-09-02 浏览量：1328
2013.03.25
今天拿一块KL9的好板做了一下试验，推翻了一些以前的猜测。有些问题似乎更加清晰了，而有些还是无法解释。
先回答前面饼哥的一个问题：
“想再请楼主做个实验，去掉BIOS后，测下PCH的PWROK和PROCPWRGD是否正常”
试验一：
去掉BIOS芯片。
现象： 触发上电至0.25A掉电，其后自动上电再掉电，反复循环。同时+VCC_CORE未生。
（因为会掉电，以下测得的信号只有短暂的电平或波形，很快掉落）
| 序列 | 信号名 | 状态 |
| 1 | PWROK | +3.3V |
| 2 | PROCPWRGD | 无电压 |
| 3 | DRAMPWROK（PM_DRAM_PWRGD） | +1.5V |
| 4 | THRMTRIP# ( PM_THRMTRIP# ) | +1V |
| 5 | DF_TVS （H_SNB_IVB#） | +1.2V（+1.5V） |
| 6 | SYS_RESET# (XDP_DBRST# ) | +3.3V |
| 7 | PMSYNCH （PM_SYNC） | 无 |
| 8 | 25M晶振 | 有波形 |
| 9 | CLKOUT_DMI_N （CLK_CPU_BCLKN） | 有波形 |
| 10 | CLKOUT_DMI_P （CLK_CPU_BCLKP） | 有波形 |
| 11 | HWPG | +3V |
| 12 | VRON | +3V |
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